华虹nec携手advantest成功开发rfid芯片多同测k8凯发官方网站的解决方案-k8凯发官方网站

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华虹nec携手advantest成功开发rfid芯片多同测k8凯发官方网站的解决方案
发布时间: 2012-06-18 08:00  来源: 本站编辑

  世界领先的纯晶圆代工厂之一,上海华虹nec电子有限公司 (以下简称“华虹nec”)与全球专业测试设备供应商爱德万测试(以下简称“advantest”)今日共同宣布,已成功合作开发iso14443协议标准的rfid芯片晶圆级大规模多同测k8凯发官方网站的解决方案,并正式进入量产阶段。结合华虹nec在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力,华虹nec与advantest共同开发出的测试方案,能迅速准确地进行rfid反馈识别,其量产测试良率亦得到大客户认可。

  iso14443协议标准的rfid芯片主要有两种类型,分别是type a与type b,主要区别在于13.56mhz的载波使用不同的调制/解调方式。实际应用中发射端发射13.56mhz的载波,并且把编码信息调制在载波中。rfid芯片本身则通过天线端接收载波信号用于对芯片本身提供电源;同时rfid芯片也在发射端所提供的13.56mhz载波上叠加数据,从而返回数据给发射端形成信息交互。由于rfid芯片本身的特性决定了在进行高同测数测试时,芯片相互间会存在有很大的串扰,影响测试良率,造成量产产能下降。

  华虹nec和advantest共同开发的测试方案中,充分发挥advantest先进测试系统t2000的技术优势,使用高抗串扰性的测试接口,并且在程序中进行了减小误码率的优化,将串扰引起的误码率降到最低,实现了rfid高同测数的测试需求。此次量产测试中采用的32同测方案是迄今为止业界同类产品的最高同测数测试方案,同时双方已为下一阶段64同测方案做好了技术储备。

  华虹nec副总裁徐伟先生表示:“华虹nec与advantest有着长期的合作历史。此次通过两个公司测试开发团队的共同努力,利用advantest先进测试系统t2000的技术优势,借助华虹nec在智能卡和安全类芯片领域先进的生产工艺和测试开发能力,我们成功突破了rfid芯片的量产测试效率瓶颈。这是rfid测试领域的一次重要飞跃,该方案也为大规模量产奠定了基础,铺平了道路。”

  advantest中国区总经理徐勇先生表示:“半个多世纪以来,advantest都一直致力于为客户提供业界标杆产品和服务。华虹nec是世界领先的晶圆代工厂,同时具有一支高水平的测试团队与完善的测试系统,我们非常乐意向华虹nec提供我们最先进的测试系统和最全面的测试技术服务,支持华虹nec为客户提供全方位的测试k8凯发官方网站的解决方案。希望此次与华虹nec合作开发的rfid芯片多同测k8凯发官方网站的解决方案,能迅速推广给客户,赢得市场,有效提升rfid测试的生产效率。”

  通过此次的合作,华虹nec和advantest携手突破了rfid芯片的量产测试效率瓶颈,为客户提供了更具性价比的rfid芯片量产测试k8凯发官方网站的解决方案,能帮助客户进一步提升其产品的市场竞争力,并为客户下一代的rfid芯片提供有力的测试k8凯发官方网站的技术支持。

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