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华虹nec实现“国家金卡工程优秀成果金蚂蚁奖”三连冠
发布时间: 2010-06-08 08:00  来源: 本站编辑

  2010年6月7日,国家金卡工程协调领导小组办公室在北京举行了“2010年度国家金卡工程优秀成果金蚂蚁奖”颁奖仪式。上海华虹nec电子有限公司自主研发的“sonos 0.13微米嵌入式闪存(eflash)技术”荣获“2010年度国家金卡工程优秀成果金蚂蚁奖——优秀应用成果奖”,这是华虹nec连续第三年获得这一殊荣。此次获奖是对华虹nec在智能卡领域多年来所取得成绩的肯定,进一步凸显了其在嵌入式非挥发性存储器(nvm)技术领域的领先地位和创新能力。

  此次获得“金蚂蚁——优秀应用成果奖”的“sonos 0.13微米嵌入式闪存(eflash)技术”是目前代工业内先进的大规模量产的嵌入式非挥发性存储器工艺技术,该技术具有编程电压低、容易被集成到标准cmos工艺、高成品率、测试成本和生产成本低、面积容易优化等特点,具有高可靠性、低成本等优点,特别适用于智能卡产品。

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